蔡司X射線光學顯微鏡XradiaVersa中有哪些特點

 　　在XradiaVersa、Xradia810Ultra和FIB-SEM光學顯微鏡中間，應用Atlas5(查看更多)開展關系和導航欄。

　　實時觀查腐蝕過程

　　將AZ31壓鑄鋁試品(1毫米x1mm)放進0.1mol/L的NaCl水溶液中，并放置蔡司X射線光學顯微鏡XradiaVersa中，應用1um的體素、2鐘頭一次的掃描儀速率對試品開展原點顯像。當在掃描結果中發覺腐蝕早已從表層及近表層蔓延到原材料內部的構造時，將試品從水溶液中取下，并且用純凈水對試品開展清洗，終止腐蝕過程。

　　從圖2這種掃描儀圖象中能夠 見到，在逐漸的好多個鐘頭，試品表層發生了普遍的點腐蝕(如圖所示2a和6b所顯示)，伴隨著時間流逝，這種點腐蝕持續蔓延，遮蓋大量的表層。這種產生在表層及其近表層的原始損傷是腐蝕的*階段。

　　14鐘頭以后，試品表層的損傷增長速度遲緩，可是腐蝕逐漸向原材料內部蔓延，腐蝕進到第二階段。從圖2c和2d中，能夠 觀查到亞表層的原材料損傷，而且腐蝕損傷不僅從表層向原材料內部拓展，也有許多近表層的密度*的遍布的金屬材料間進行析出相做為負極在產生腐蝕反映。

　　圖2：在原點XradiaVersa中試品不一樣腐蝕時間顯像結果a)兩小時后，b)八小時后，c)14小時后，d)14小時后的內部剖面圖，深藍色箭頭符號所說是亞表層損傷，紅色箭頭是密度*的地區

　　數據信息聯用，*定位腐蝕地區

　　為了更好地獲得大量腐蝕的關鍵點，必須進一步選擇更*的子樣開展納米定性分析。

　　將腐蝕試品放進蔡司聚焦點電子束光學顯微鏡(FIB-SEM)中，用蔡司Atlas5光學顯微鏡聯用手機軟件將XradiaVersa的2D原點數據信息導進并配對，*定位到腐蝕比較比較嚴重的地區(如圖所示3a的白圈所顯示)。

　　在這個總體目標部位上，用FIB-SEM的lift-out方式 取下一個尺寸約為50×50×80um尺寸的子樣，放進蔡司Xradia810Ultra中，用150nm的體素開展觀查，視線65um。