長期以來，接觸式
三坐標測量機以其通用性和高精度成為測量幾何尺寸和形位公差的首選設備。到目前為止，還沒有任何一種測量裝置能在幾何測量領域有如此廣泛的應用。在渦輪葉片加工行業，接觸式三坐標測量機長期以來一直作為一種質量控制檢驗方法，廣泛應用于航空航天和發電設備渦輪葉片的形狀和根部尺寸及形狀公差的檢測。
不可否認的是，對于廓形公差一般設定為80-200μm的翼型，一般接觸式三坐標測量機的測量精度在2μm左右是完全能夠勝任測量工作的。對于精度要求高的葉根裝配尺寸，5～10μm的公差也可以用1.5μm以上甚至是亞微米級的高精度
三坐標測量。葉片作為葉輪機械的關鍵部件之一，有著非常顯著的特點和獨特的測試要求。然而，作為一種通用的測量設備，三坐標測量機能否完全滿足渦輪葉片檢測的特點，一直是一個被忽視的課題。也就是說，從
三坐標測量的原理來看，還沒有找到一個完美的解決方案來解決葉片測量中遇到的問題。
葉片型面測量一般通過特征截面（控制截面）的輪廓偏差和位置偏差來評價。這些特征截面是基于一定的平面，并具有特定的截面高度。截面與翼型廓線的交點形成一組封閉的平面三維曲線，這組封閉曲線就是翼型廓線，它是葉片廓線測量的對象。雖然每個輪廓線都在平面上，但由于輪廓線上每個測量點的法線方向在三維空間中是變化的，因此不能將它們視為二維曲線。正是由于這個原因，造成了葉片型面測量中的一個難點，即測針半徑補償誤差（余弦誤差）的引入。
葉片型面的測量方法有兩種，一種是作為未知曲線掃描型面，另一種是作為已知曲線掃描型面，但這兩種方法都有各自的缺點。當掃描葉片輪廓為未知曲線時，軟件可以鎖定掃描段的高度，同時設置矢量方向的k分量I,I，j，k的測量點為0，并輸出具有固定Z值的測量點。當用球筆掃描輪廓時，紅寶石球與3D表面的實際接觸點不是預期的接觸點（如圖所示）。測量軟件記錄紅寶石球中心的空間坐標，然后根據測針的半徑進行補償，得到實際點的坐標。在這種情況下，觸筆在擊中預期的接觸點之前已觸發，因此補償的接觸點將具有半徑補償的余弦誤差。
