杰米尼SEM450更快的響應速度和更高的表面靈敏度，使用戶能夠快速、靈活、可靠地對樣品表面進行成像和分析。由于雙子座450可以精確和獨立地控制電子束斑和束流，它仍然可以保持高分辨率成像在高通量電子背散射衍射（EBSD）和低電壓X射線能譜（EDS）分析模式，在低電壓條件下工作效果更好。
杰米尼SEM450采用Gemini 2透鏡管設計，可在低束流的高分辨率成像和高束流的分析模式之間無縫切換。這使得GeminiSEM 450成為滿足苛刻成像和分析要求的理想平臺。優化的電子光學鏡筒，減少了工作中重新校準的復雜過程，節省了成像時間，提高了工作效率。
此外，GeminiSEM 450還可對非導電、磁性或其他類型的樣品進行快速、高質量的成像和分析。值得注意的是，其可變壓力技術減少了非導電樣品的充電，而不會影響鏡頭內檢測能力，同時通過減少裙部效應實現高分辨率EDS分析。
應用示例：真核細胞纖毛，使用GeminiSEM 450 BSD背散射探測器成像
在這些設計的基礎上，蔡司SEM450為材料科學、生命科學和工業實驗室等領域的各種應用提供了靈活的儀器。
